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BOS 5K-NS-RH12-S75武汉巴鲁夫BOS 5K-NS-RH12-S75现货传感器

武汉巴鲁夫BOS 5K-NS-RH12-S75现货传感器

型    号: BOS 5K-NS-RH12-S75
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武汉巴鲁夫BOS 5K-NS-RH12-S75现货传感器带背景消隐功能的漫反射型传感器带背景隐藏功能的光敏传感器确保可靠识别,不受表面、颜色和材料影响。
其探测方式在不同的亮度系数下几乎保持不变。

  • 产品描述

武汉巴鲁夫BOS 5K-NS-RH12-S75现货传感器带背景消隐功能的漫反射型传感器带背景隐藏功能的光敏传感器确保可靠识别,不受表面、颜色和材料影响。
其探测方式在不同的亮度系数下几乎保持不变。

主要特点

型号系列

5K

尺寸

10.8 x 43.2 x 19.5 mm

接口

NPN常开触点 (NO)

功能原理

光电传感器

功能原理,光学

漫反射型传感器,三角测量

光学特点

背景消隐

光线类型

LED,红光

作用范围

20~200 mm

接口

插接器, M8x1-公头, 4-针

外壳材料

PC
PBT

感应面,材料

PMMA

工作电压Ub

10~30 VDC

许可/*性

cULus, CE, WEEE

品牌

Global

温度传感器,较常用的非接触式测温仪表基于黑体辐射的基本定律,称为辐射测温仪表。辐射测温法包括亮度法(见光学高温计)、辐射法(见辐射高温计)和比色法(见比色温度计)。各类辐射测温方法只能测出对应的光度温度、辐射温度或比色温度。只有对黑体(吸收全部辐射并不反射光的物体)所测温度才是真实温度。如欲测定物体的真实温度,则必须进行材料表面发射率的修正。而材料表面发射率不仅取决于温度和波长,而且还与表面状态、涂膜和微观组织等有关,因此很难精确测量。在自动化生产中往往需要利用辐射测温法来测量或控制某些物体的表面温度,如冶金中的钢带轧制温度、轧辊温度、锻件温度和各种熔融金属在冶炼炉或坩埚中的温度。在这些具体情况下,物体表面发射率的测量是相当困难的。对于固体表面温度自动测量和控制,可以采用附加的反射镜使与被测表面一起组成黑体空腔。附加辐射的影响能提高被测表面的有效辐射和有效发射系数。利用有效发射系数通过仪表对实测温度进行相应的修正,最终可得到被测表面的真实温度。较为典型的附加反射镜是半球反射镜。球中心附近被测表面的漫射辐射能受半球镜反射回到表面而形成附加辐射,从而提高有效发射系数式中ε为材料表面发射率,ρ为反射镜的反射率。至于气体和液体介质真实温度的辐射测量,则可以用插入耐热材料管至一定深度以形成黑体空腔的方法。通过计算求出与介质达到热平衡后的圆筒空腔的有效发射系数。在自动测量和控制中就可以用此值对所测腔底温度(即介质温度)进行修正而得到介质的真实温度。

武汉巴鲁夫BOS 5K-NS-RH12-S75现货传感器

武汉巴鲁夫BOS 5K-NS-RH12-S75现货传感器

非接触测温优点:测量上限不受感温元件耐温程度的限制,因而对可测温度原则上没有限制。对于1800℃以上的高温,主要采用非接触测温方法。

随着红外技术的发展,辐射测温温度传感器逐渐由可见光向红外线扩展,700℃以下直至常温都已采用,且分辨率很高。

联系人:盛辉
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